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Vol 3 - Numéro 1

Composants nanoélectroniques


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Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille

This paper discusses the impacts of electric field and physical confinement around the pn-junction on the diffusion constant and carrier lifetime of various pn-junction devices fabricated on silicon-on-insulator (SOI) substrates. The discussion will introduce the key points (...)


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