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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Bruno Lebouvier
Bruno ROMAGNY
C V S R Subrahmanyam
C. Bordallo
C. Claeys
Calvet Anne
Camal Gallouj
Camille Aouinaït
Camille Aouinaït
Camille Landreau
Camille Noûs
Camille Roelens
Camille Rosenthal-Sabroux
Camille Salinesi
Camille Vandromme
Cannevière M.
Capucine Korenberg
Carine Calastrenc
Carine Souveyet
Carine Vinardi
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