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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Brigitte VAN VLIET-LANOË
Brunelle MARCHE
Brunelle Marche
Bruno Arnaldi
Bruno Barroca
Bruno Chanetz
Bruno Desachy
Bruno GARNIER
Bruno Garnier
Bruno Hénocque
Bruno Jacomy
Bruno Lebouvier
Bruno ROMAGNY
C V S R Subrahmanyam
C. Bordallo
C. Claeys
Calvet Anne
Camal Gallouj
Camille Aouinaït
Camille Aouinaït
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