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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Messaouda Terchi
Mhamed Itmi
Michaël Befinoana
Michael Brice Talla Sadeu
Michael Edward Edgerton
Michaël Gonzva
Michael Grabner
Michael Graef
Michael Lewis
Michael Rath
Michael Saidani
Michel Cartereau
Michel DABAS
Michel Dalmas
Michel DESHAIES
Michel Feidt
Michel Feidt
Michel Feugère
Michel Fliess
Michel Gradeck
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