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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Les auteurs
Matthew J. JACOBSON
Matthew Sassman
Matthieu Ambroise
Matthieu Le Bailly
Matthieu Quantin
Maurice Fadel
Mauricio CAMARGO
Mauricio Camargo
Mauro Ballero
Mauro Florez
Max CHEVALIER
Max CHEVALIER
Maxence Bobin
Maxime
Maxime Callewaert
Maxime Delaitre
Maxime Duval
Maxime Laugeois
Maxime Masson
Maxime Masson
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