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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Snoun Safa
Soboua Thera
Sofia Vairinho
Sofian Audry
Sofiane Tahi
Sofiane Tahi
Sofiene Fenina
Soheyb Ayad
Sokhna R. NDIAYE
Solène Gouénard
Solweig Hennechart
Son Thi Kim Le
Sondes Chaabane
Sonia Adam-Ledunois
Sonia Garcia-Salicetti
Sophie Boutillier
Sophie Boutillier
Sophie BOUTILLIER
Sophie Boutillier
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