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Yasuhisa Omura
KansaiI University, Japan
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Articles de cet auteur (2)
Considérations sur les impacts du champ électrique et du confinement physique sur la constante de diffusion et la durée de vie des porteurs dans des composants à jonction pn contrôlés par grille
Consideration on Impacts of Electric Field and Physical Confinement on Diffusion Constant and Carrier Lifetime in Insulated-Gate pn-Junction Devices
Les auteurs
Quy Thy Truong
R. Alsaedi
R. Duduchava
R. El Maani
R. El Maani
R. Étienne
R. Moutngui
R. Rooyackers
Rabarisoa Herilalaina
Rabie FERRAM
Rabii El Maani
Rabii El Maani
Rachelle P. Houaga
Rachid AZENZEM
Rachid Chelouah
Rachid El Alaiji
Rachid Senoussi
Radhia Ghanmi
Radi Bouchaib
Rafael Laufer
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