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G. Ghibaudo
Univ. Grenoble Alpes
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Voir en ligne :
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Articles de cet auteur (4)
Electrical characterization of advanced FDSOI CMOS devices
Expression analytique de la sensibilité de la charge de surface avant pour les transistors MOS semiconducteur sur isolant complètement déplétés
Analytical expression of top surface charge sensitivity in fully depleted semiconductor on insulator MOS transistor
Caractérisation électrique des Dispositifs CMOS FDSOI avancés
Les auteurs
Valentin Lhoste
Valentin Lignau
Valentina Krachmalnicoff
Valentina Locher
Valentyna Dymytrova
Valérie Daux
Valérie Dmitrovic
Valérie Gouranton
Valérie Guillard
Valérie Lepiller
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Valérie November
Valérie Payen Jean Baptiste
Valerie Towo Meffeu
Valéry Psyché
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Van Bao Nguyen
VAN DUONG DINH
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